Главная / Производители / APE / Автокоррелляторы

Автокоррелляторы

APE

Autocorrelator Автокорреляторы АРЕ предназначены для измерения длительности импульса фемтосекундных и пикосекундных лазерных источников. Основной принцип работы автокоррелятора для измерения длительности импульса следующий: делитель пучка (полупрозрачное зеркало) создает две копии поступающих импульсов. Эти части светового пучка распространяются в нелинейной среде и взаимодействуют при условии, что они накладываются во времени. Длительность импульса, или ширина импульса пучка лазерного излучения - временной интервал между двумя точками, когда мгновенная мощность импульса достигает 50% пиковой мощности. Также доступны варианты автокорреляторов, работающих по методу генерации второй гармоники - самому популярному методу спектроскопии с разрешением по частоте и во времени (англ. FROG). Поэтому все автокорелляторы АРЕ оптимизированы для приложений, связанных с мониторингом любых характеристик импульсов: функции прибора расширились благодаря дополнительному кристаллическому модулю и обновленному ПО для обработки полученных данных. Благодаря сочетанию различных кристаллов, приборы оптимизированы для длин волн в широком диапазоне от 420 нм до 2200 нм. Распознаваемая ширина (длительность) импульсов от 20 пс до 6 фс, спектральное разрешение при этом может достигать 0.1 нм. Каждый кристалл поставляется со списком технических характеристик и отдельной инструкцией для калибровки. Версия FROG совместима с лазерами с частотой до 10 кГц. Приборы серии SPIDER предназначены специально для регистрации фазово-разрешенных ультракоротких импульсов длительностью до 5 фс. LX SPIDER позволяет регистрировать и анализировать импульсы длительностью 16 - 200 фс, SPIDER IR оптимизирован для работы с импульсами 30 - 500 фс и центральной длиной волны 1 мкм.

Основные характеристики автокорреляторов:

  • Широкий ассортимент оптических компонентов и приемников оптического излучения
  • Интуитивное ПО и USB интерфейс
  • Диапазон длин волн от 200 до 12 мкм
  • Измерение длительности импульсов от 10 фс до 500 пс
  • Компактный дизайн
  • Калибровка по эталонам NIST
  • Удаленное управление по TCP/IP

 

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции APE на территории РФ

Online - заявка
Ваше имя или название организации*
Ваш E-mail или телефон*
Текст*
Последние статьи
Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

Применение CO2 лазеров с высокочастотной накачкой для обработки материалов

В последнее время во многих применения все чаще используют CO2 лазеры с высокочастотной накачкой. Данный факт обусловлен высокой производительностью, долговечностью и безопасностью таких лазеров...

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2