BATOP

Насыщаемые поглотители
Отражательные и пропускающие насыщаемые поглотители и шумоподавители
Лазеры
Микрочиповые лазеры, комплекты для лазерного анализа, миниатюрные зеркала и длинноволновые фильтры
Терагерцовые устройства
Фотопроводящие антенны, терагерцовые спектрометры и линзы

25-0

BATOP - компания, основанная в 2003 году. Компания BATOP впервые вышла свет в парке технологий и инноваций Йены. Уже с марта 2017 года BATOP работает в своем собственном здании с просторными офисами и большой производственной площадью.

Основной продукцией компании являются полупроводниковые нелинейные оптические устройства: насыщающие поглотители для лазеров, насыщающие шумоподавители для улучшения оптических сигналов и фотопроводящих антенн для генерации и обнаружения терагерцового излучения. Тонкие пленки производятся синтезом соединений GaAs, AlAs, InAs на GaAs пластинах для оптоэлектронных устройств. Все процессы на производстве строго контролируются. Помимо оптоэлектронных устройств, корпорация производит сложные оптические системы: терагерцовые спектрометры и пикосекундные микрочиповые лазеры. Во время разработки пользовательской продукции BATOP находится в диалоге с клиентами, а также учитывает их пожелания и идеи.

Насыщаемые поглотители
Зеркала с насыщаемым поглотителем, насыщаемые поглотители, работающие на пропускание, а также насыщаемые шумоподавители.
Тергагерцовые устройства
Терагерцовые спектрометры реального времени, фотопроводящие антенны и терагерцовые линзы.
Лазеры
Микрочиповые лазеры, комплект для настройки пикосекундных лазеров, миниатюрные зеркала и длинноволновые фильтры.
Кастомная продукция BATOP

ВАТОР разрабатывает высококачественные эпитаксиальные слои тонких пленок с использованием соединений AlAs, GaAs, InAs, AlGaAs, AlInAs и InGaAs на пластинах GaAs. Порой в экспериментах необходимы устройства с быстрым временем срабатывания: оптические детекторы, насыщаемые поглотители или фотопроводящие антенны.
ВАТОР использует метод эпитаксиального роста при низких температурах для устройств с коротким временем отклика (~ 1 пс).

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции BATOP на территории РФ

Последние статьи
Объемные брэгговские решетки в лазерных резонаторах

В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле. 

Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2