Главная / Производители / CNI / Комплексы лазерной маркировки CNI

Комплексы лазерной маркировки CNI

cni logo

Лабораторные инструменты необходимы как для проведения экспериментов в лаборатории, так и для различных учебных работ в университетах. CNI предлагает готовые экспериментальные схемы и отдельные инструменты для изучения нелинейной, физической и инженерной оптики.

Схема для измерения спектра поглощения и излучения

Понятие о спектре флуоресценции и методах его измерения
Принципы работы He-Ne лазера
Флуоресцентные свойства лазерных кристаллов
Спектры флуоресценции при разработке источника излучения

 

Оборудование в комплекте:
He-Ne лазер: 632.8 нм
Лазерный диод: 808 мм
Кристалл: Nd:YAG, Nd:YVO4
Спектрометр:  200 - 1100 нм
Оптические компоненты, направляющие излучение: линзы, пластины и т.д.

 


 

Установка для наблюдения и анализа монохроматических аберраций методом среза

Наблюдение сферических аберраций
Наблюдение комы
Наблюдение астигматизма
Наблюдение кривизны поля

 

Оборудование в комплекте:

Коллиматор
Линза
Цифровая камера-приемник

 


 

Установка по изучению и наблюдению нелинейных эффектов: удвоение частоты

Понятие о согласованности фаз
Удвоение частоты в резонаторе
Факторы, влияющие и способствующие удвоению
Характеристики кристаллов

 

Оборудование в комплекте:

Лазерный источник: лазер с модуляцией добротности 1064 нм
Фокусирующая линза: фокусное расстояние 80 мм
Кристалл: KTP, LBO
Фильтр с высокоотражающим покрытием
Измеритель мощности: диапазон распознавания 0.19 - 0.25 мкм, чувствительность 10 мВт, отклонение менее 2%
Направляющая оптика

 


 

Установка по изучению передачи лазерного излучения в оптоволокне

Демонстрация явления полного внутреннего отражения (ПВО)
Необходимые условия для ПВО
Понятие о предельном угле
Структура оптоволокна и передача излучения

 

Оборудование в комплекте:

Лазер: 532 нм
Полуцилиндрический объектив: радиус кривизны 9.5 мм, класс К9
Универсальная платформа
Оптоволокно: длина 40 см, радиус 6.67 мм
Направляющая оптика

 


 

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции CNI на территории РФ

Последние статьи
Объемные брэгговские решетки в лазерных резонаторах

В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле. 

Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2