Главная / Производители / CNI / Оптические компоненты CNI

Оптические компоненты CNI

cni logo

Компания CNI предлагает широкий ассортимент дополнений для микроскопии, спектрометрии, интерферометрии: диодные лазеры, кристаллы, оптические линзы, фильтры, зеркала, окна, призмы, разделители/объединители и расширители пучка.

Лазерные диоды

  • Рабочий диапазон: 405 - 1550 нм
  • Диапазон выходной мощности: 5 мВт - 10 Вт
  • Резонатор Фабри-Перо
  • Низкая емкость кондесатора

 

Лазерные диоды с оптоволоконным кабелем

  • Рабочий диапазон: 405 - 1550 нм
  • Диапазон выходной мощности: 1 - 5000 мВт
  • Резонатором Фабри-Перо
  • FC/PC или FС/APC коннекторы
  • Распределенная обратная связь 

 

Высокомощные лазерные диоды

  • Рабочий диапазон: 635 - 1064 нм
  • Диапазон выходной мощности: до 250 Вт
  • Разработаны специально для твердотельных, волоконных лазеров
  • Применяются в медицине, хирургических операциях, косметологии

 

Светоделители

  • Пропускание излучения любой частоты
  • Коэффициент ослабления в среднем 1000:1 
  • Низкие вибрации волнового фронта

 

Волновые пластины

  • Материал: кварц
  • Любая фазовая задержка
  • Рабочий диапазон: 260 - 2000 нм 
  • Колебания волнового фронта: менее λ/10    

 

Акустооптический модулятор

  • Диапазон модуляции: до 1 МГц 
  • Дифракционная эффективность: >75%
  • Длинноволновый диапазон: 450 - 850 нм (иное по требованию)

 

Затвор

  • Задержка от электрического сигнала: 8 мс
  • Частота действия: до 10 Гц
  • Время подъема и спада: 0.7 мс

 

Расширитель пучка

  • Регулировка угла отклонения
  • Коэффициент расширения: от 2 до 10
  • Рабочий диапазон: от УФ до ИК области

 

Лазерный дисплей

  • Преобразование ИК излучения в видимый свет
  • Рабочий диапазон: 800 - 1600 нм 

 

Шарнирный рычаг

Жесткое крепление рычагов обеспечивает точное и плавное перемещение.


 

Таймер

Используется для измерения рабочего времени лазерного источника. Отклонение составляет менее 0.02% от номинального значения.


 

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции CNI на территории РФ

Последние статьи
Объемные брэгговские решетки в лазерных резонаторах

В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле. 

Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2