Главная / Производители / Sino-Galvo / Системы контроля

Системы контроля

jd2204-galvo-scanner-for-laser-marking-machine-2219018

Плата управления фракционными лазерами

Плата управления изготовлена по всем современным стандартам проектирования гальванических плат? предназначена для  управления различными фракционными лазерными системами и помехоустойчива. К отличительным особенностям относятся высокая изоляция и высокая электромагнитная совместимость.

Свойства:

  • Плата представлена различными формами – квадратная, круглая, треугольная, гексагональная и линейная (масштаб осей в направлении Х и Y уточняется при заказе)
  • Интуитивный интерфейс, доступен выбор языка 
  • Регулируемые параметры точности сканирования
  • Функции калибровки лазерной мощности, длины волны, яркости
  • Улучшенная система защиты и изоляция
  • Поддержка протоколов связи RS232 и 485
  • Мультиканальная защита входного сигнала
  • Совместимость стандартизированных интерфейсов с различными системами
  • Два режима работы
Online Заявка
Плата управления системами лазерной маркировки

Рассматриваемая плата управления предназначена специально для систем лазерной маркировки. Подключение к ПК осуществляется по USB интерфейсу. Лазерные системы маркировки, работающие с установленной платой, демонстрируют лучшую производительность.

Свойства:

  • USB интерфейс с повышенной помехоустойчивостью 
  • Высокая производительность, улучшающая общую эффективность системы
  • Подключается к волоконному лазеру через порт последовательного ввода-вывода
  • Поддержка двух дополнительных широтно-импульсных модуляторов в диапазоне частот 1 кГц - 10 МГц
  • Защита от токовой перегрузки и скачков напряжения
  • Прямое подключение к гальваническому сканатору
Online Заявка
Модуль оффлайн-управления системами лазерной маркировки

Модуль управления обладает 4 Гб системной памяти. Скорость обработки на жестком диске достаточно высокая, при этом сохраняется стабильность при работе, столь необходимая в процессе лазерной маркировки изделий. Для работы требуется только импортировать данные на модуль управления, после чего запустить систему в оффлайн-режиме. 

Свойства:

  • Множество периферийных интерфейсов 
  • 3 порта последовательного ввода-вывода
  • 2 USB порта 
  • 17 внешних прерывателей GPIO
  • 1100 Мбайт памяти на сетевые порты
  • Высокая совместимость для коммуникации с внешними интерфейсами
Online Заявка

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции Sino-Galvo на территории РФ

Последние статьи
Объемные брэгговские решетки в лазерных резонаторах

В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле. 

Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2