FemtoEasy – компания, специализирующаяся на оборудовании для ультрабыстрых и точных метрологических измерений. Все метрологические приборы проходят экспертизу на этапе производства и активно применяются в современных лабораториях. Ассортимент продукции содержит все необходимые приборы для сертификации и метрологии импульсных источников, среди них – инструменты для определения временных характеристик, проведения спектральных и пространственных измерений. Все приборы подходят для работы с широким диапазоном длин волн (от УФ области до среднего ИК диапазона спектра), а также с импульсами длительностью от 5 фс до 80 пкс. Помимо полного соответствия параметрам производительности, приборы просты в эксплуатации, компактны и по-настоящему универсальны. Программное обеспечение, поставляемое вместе с оборудованием, полностью интуитивно. Компания предоставляет сервисные услуги, а также производит оборудование на заказ.
Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции FemtoEasy на территории РФ
Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.
Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.
Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм. Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.
Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.
Изучение явления поверхностного плазменного резонанса (ППР) стало ключом к созданию множества сенсорных систем для исследования образования и диссоциации как низкомолекулярных соединений, так и макромолекул.
В последнее время во многих применения все чаще используют CO2 лазеры с высокочастотной накачкой. Данный факт обусловлен высокой производительностью, долговечностью и безопасностью таких лазеров...
г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2
