FT-IR-FC Rocket – это вариант спектрометра FT-IR Rocket, специально разработанный для работы с оптоволоконными зондами среднего инфракрасного диапазона и представляющий собой plug-and-play прибор, состоящий из источника инфракрасного излучения, высокостабильного интерферометра, детектора и оптоволоконных ответвителей SMA.
FT-IR-FC Rocket оснащен датчиками РКТ (ртуть-кадмий-теллурид) с 4-этапным термоэлектрическим охлаждением или жидкостным азотным охлаждением. Детекторы с термоэлектрическим охлаждением в FT-IR-FC являются наиболее чувствительными из доступных на рынке и обеспечивают надежную и не требующую обслуживания работу системы. Для достижения предельных уровней чувствительности в FT-IR-FC необходимо использовать детектор с охлаждением жидким азотом. Оба типа детекторов для пользователя являются заменяемыми.
Преимущества:
Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.
Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.
Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм. Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.
Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.
Изучение явления поверхностного плазменного резонанса (ППР) стало ключом к созданию множества сенсорных систем для исследования образования и диссоциации как низкомолекулярных соединений, так и макромолекул.
В последнее время во многих применения все чаще используют CO2 лазеры с высокочастотной накачкой. Данный факт обусловлен высокой производительностью, долговечностью и безопасностью таких лазеров...
г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2