Главная / Производители / ARCoptix / FT-IR спектрометр

FT-IR спектрометр

FT-IR Rocket – это надежный, компактный, легкий и высокопроизводительный спектрометр, доступный в версии с волоконно-оптическим подключением или в версии со свободным выходом. Устройство предназначено для измерений в инфракрасном диапазоне спектра, требуемых в волоконно-оптической связи или для измерений характеристик источников инфракрасного излучения.

FT-IR Rocket обеспечивает высокое разрешение и чувствительность благодаря использованию термоэлектрически охлаждаемых детекторов РКТ (ртуть-кадмий-теллурид), его постоянно выровненный интерферометр и твердотельный эталонный лазер обеспечивают высочайшую производительность при каждом сканировании. Система обладает высокой стабильностью как по длине волны, так и по шкале интенсивности, что делает ее идеальным инструментом для высоко воспроизводимого химиометрического анализа.

Спектрометры FT Rocket предлагаются в следующих стандартных версиях: FT-MIR 2 – 6 мкм, FT-MIR 1.5 – 8.5 мкм и FT-IR 2 – 12 мкм. Все версии обладают разрешением 4 см-1. Основные отличия заключаются в материале светоделителя (CaF2 или ZnSe) и чувствительности детектора: детектор с узкой полосой 2 – 6 мкм обладает лучшей чувствительностью.

ftir 2-6                        ftir 2-12
FT-MIR 2 – 6 мкм                                                                           FT-IR 2 – 12 мкм

 

Модель FT-MIR 2 - 6 FT-MIR 1.5 - 1.8 FT-IR 2 - 12
Материал светоделителя CaF2 CaF2 ZnSe
Спектральный диапазон, мкм 2 - 6 1.5 - 8.5 2 -12
Тип детектора РКТ (2 этапное термоэлектрическо охлаждение) РКТ (4 этапное термоэлектрическо охлаждение) РКТ (4 этапное термоэлектрическо охлаждение)
Соотношение сигнал:шум 1:5000 1:3000 1:3000
Рекомендованное волокно Халькогенидное Халькогенидное или поликристаллическое Поликристаллическое
Тип интерферометра Постоянно выровненный с двойным отражением
Разрешение, см-1 4
Свободный выход Апертура 12.7 мм
Волоконная муфта SMA905, сердцевина волокна до 1 мм, NA = 0.25 (линза), NA = 0.3 (отражатель)
Интерфейс USB 2.0
Размеры 180 х 160 х 80 мм
Вес 1800 г

Преимущества

  • Компактность
  • Высокое разрешение 4 см-1
  • Пельтье охлаждение детектора
  • 3 спектральных диапазона: 2 – 6 мкм, 1.5 – 8.5 мкм, 2.5 – 12 мкм
  • Интерфейс USB
Online - заявка
Ваше имя или название организации*
Ваш E-mail или телефон*
Текст*
Последние статьи
Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

Применение CO2 лазеров с высокочастотной накачкой для обработки материалов

В последнее время во многих применения все чаще используют CO2 лазеры с высокочастотной накачкой. Данный факт обусловлен высокой производительностью, долговечностью и безопасностью таких лазеров...

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2