Главная / Библиотека / Спектроскопия тонких пленок пентаоксида ниобия

Спектроскопия тонких пленок пентаоксида ниобия

Теги бриллюэновская спектроскопия lightmachinery рассеяние Бриллюэна
Спектроскопия тонких пленок пентаоксида ниобия

В эксперименте измерялась частота Бриллюэновского сдвига в тонкой пленке пентаоксида ниобия (Nb2O5), нанесенной на подложки из стекла и германия. Для измерения использовался микрообъектив с 20-кратным увеличением. Толщина пленки в обоих случаях составляет 5 мкм. Спектры на рисунках 1 и 2 были получены при мощности лазерного излучения 25 мВт на образце. Измеренная частота Бриллюэновского сдвига Nb2O5 составляет 49.84 ± 0.05 ГГц на стеклянной подложке, и 49.21 ± 0.03 ГГц на германиевой подложке. Разница в значениях составляет 0.63 ГГц.

Из эксперимента можно предположить влияние материала подложки на частоту сдвига Бриллюэна. Для проверки этого предположения нужно провести дополнительные измерения интенсивности в слое Nb2O5. Интересно, что амплитуда интенсивности спектра пентаоксида ниобия на германиевой подложке примерно в 5 раз больше, чем на стеклянной.

Дальнейшие эксперименты посвящены исследованию отражательной способности подложек. Германиевая подложка демонстрирует высокое отражение по сравнению со стеклянной, на рис. 2 можно наблюдать спектр сигнала накачки. На рис. 2 также интересно присутствие неизвестных пиков Бриллюэна при низкой частоте сдвига (~4.9 ГГц). Примеси, связанные осаждением Nb2O5 на германий, могли бы объяснить присутствие этих пиков.

1_спектроскопия тонких пленок

Рисунок 1. а) Спектр рассеяния Бриллюэна в тонкой пленке Nb2O5, нанесенной на стеклянную подложку. б) Необработанное изображение с датчика. Время выдержки 20 секунд.

2_спектроскопия тонких пленок

Рисунок 2. а) Спектр рассеяния Бриллюэна в тонкой пленке Nb2O5, нанесенной на германиевую подложку. б) Необработанное изображение с датчика. Время выдержки 20 секунд.

Параметры оборудования

Образец Тонкий слой Nb2O5 нанесенный на германиевую подложку
Толщина слоя 5 мкм
Оборудование
Длина волны накачки: 532 нм
Мощность на образце: 25 мВт
Увеличение микрообъектива: 20 крат
FWHM инструментального отклика: 0.9 ГГц

Расчетная частота сдвига Бриллюэна для объема Nb2O5 составляет около 47.3 ГГц (при скорости звука 5311 м/с, показателе преломления 2.37 и длине волны накачки 532 нм).

Частота сдвига Бриллюэна зависит от образца и времени экспозиции; не менее 10 МГц.

Спектр в тонкой пленке пентаоксида ниобия, нанесенная на германиевую подложку, зарегистрированный малошумным детектором

Тот же опыт был выполнен с малошумным детектором, чтобы получить спектр Бриллюэна пентаоксида ниобия на германиевой подложке. На рис. 3-б показано необработанное изображение с детектора, где высокие пики приписываются пленке Nb2O5, а слабые диагональные линии соответствуют спектру Бриллюэна германиевой подложки. Этот сигнал трудно различить в развернутом спектре. Нет четко определенных пиков Бриллюэна от германия, по-видимому, потому что он не является монокристаллом, а также из-за сильного поглощения на этой длине волны (532 нм). Мы также замечаем присутствие неизвестных пиков на частоте ~ 4.9 ГГц.

3_спектроскопия тонких пленок

Рисунок 3. a) Спектр рассеяния Бриллюэна в тонком слое Nb2O5, нанесенной на германиевую подложку, полученный камерой с пониженным шумом. б) Необработанное изображение с датчика. Время выдержки 10 секунд.

Образец Тонкий слой Nb2O5 нанесенный на германиевую подложку
Толщина слоя 5 мкм
Оборудование
Длина волны накачки: 532 нм

КМОП-детектор, охлажденный до -5°C

Мощность на образце: 25 мВт
Увеличение микрообъектива: 20 крат
FWHM инструментального отклика: 0.9 ГГц

Расчетная частота сдвига Бриллюэна для объема Nb2O5 составляет около 47.3 ГГц (при скорости звука 5311 м/с, показателе преломления 2.37 и длине волны накачки 532 нм). 

©LightMachinery
 

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции LightMachinery на территории РФ

Теги бриллюэновская спектроскопия lightmachinery рассеяние Бриллюэна
Новые статьи
Сверхбыстрая спектроскопия выявляет синглетное деление, ионизацию и образование эксимеров в пленке перилена

В данной работе рассматривается использование сверхбыстрой спектроскопии для выявления синглетного деления, ионизации и образования эксимеров в пленке перилена.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2