Главная / Производители / APE / Электро- и акустооптические модуляторы

Электро- и акустооптические модуляторы

APE

Электрооптический модулятор

EOM-Electro-Optic-Modulator-PNG Внешний электрооптический модулятор (ЭОМ) от APE - специальный модулятор, который был разработан для спектроскопии комбинационного рассеяния и других приложений, где требуется амплитудно-модулированный сигнал. Внешний ЭОМ совместим с большинством непрерывных лазеров и лазеров с синхронизацией мод, также с оптическими параметрическими осцилляторами в диапазоне от видимого до ближнего ИК. ЭОМ модулирует амплитуду пучка с фиксированной частотой 10 МГц или 20 МГц. Также доступны модуляторы для разных длин волн от 420 до 1600 нм. Модулятор сочетает в себе электрооптический кристалл с поляризатором, легко устанавливается на оптический стол. Прибор подключается к компьютеру через интерфейс USB, а питание и фазу можно легко контролировать с помощью управляющего программного обеспечения. Для быстрой синхронизации модулятор можно подключить к выходу синхронизации лазера накачки (обычно это сигнал от скоростного фотодиода).
Рабочие диапазоны:
• 420 … 600 нм
• 690 … 900 нм
• 900 … 1200 нм
• 1030 … 1064 нм
• 1200 … 1600 нм

Online Заявка
Акустооптический модулятор

aom-acoustic-optic-modulator-png.png Акустооптический модулятор (АОМ) изменяет интенсивность лазерного пучка и широко используется в качестве акустооптического прерывателя в системах обнаружения. Его преимущество перед механическими прерывателями - более высокая частота модуляции. Кроме того, оптический модулятор не вносит механической вибрации, которая может отрицательно сказываться на процессе обнаружении сигнала. В аналоговом режиме интенсивность лазерного излучения можно регулировать, сам сигнал также модулируется по времени. Значительная часть продуктов APE совместима с AOM и высокочастотными драйверами, адаптированными для соответствующего приложения. В зависимости от приложения (например, с оптическими параметрическими осцилляторами, в спектроскопии комбинационного рассеяния, с перестраиваемыми ультрабыстрыми лазерами) разрабатываются конкретные параметры установки. Модуляторы оптимизированы для ультракоротких лазерных импульсов и быстрого переключения. Возможно многоканальное и синхронизированное переключение. Обратите внимание, что AOM совместимы только с приборами и системами от APE.

Online Заявка

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции APE на территории РФ

Последние статьи
Объемные брэгговские решетки в лазерных резонаторах

В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле. 

Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2