Главная / Производители / NIT / Изображающие камеры

Изображающие камеры

NIT-logo

TACHYON 16k CAMERA
  • Формат матрицы: 128x128 (16384 пикселей)
  • Размер пикселя: 50 x 50 мкм (квадрат)
  • Спектральный диапазон:  от 1 мкм до 5 мкм
  • Пиковая длина волны детектора: 3.7 мкм
  • Время интегрирования: 10 - 1000 мкс
  • Шина данных: 14 бит
  • Интерфейсы: GigE VISION 2.0 with PoE
  • Триггеры включения/выключения
  • Частота кадров: до 2000 к/с
  • Время запуска: < 10 сек
  • Доступные объективы: 10.5º x 10.5º, f/1.1, 35 мм, ручной фокус
  • Размеры (без объектива): 70 x 60 x 60 мм
  • Механический затвор для коррекции смещения 
  • ПО в комплекте: NIT SOFTWARE SUITE 
Online Заявка
TACHYON 1024 microCAMERA
  • Формат матрицы: 32 x 32 (1024 пикселя)
  • Размер пикселя: 50 x 50 мкм (квадрат)
  • Спектральный диапазон:  от 1 мкм до 5 мкм
  • Пиковая длина волны детектора: 3.7 мкм
  • Время интегрирования: 100 - 500 мкс
  • Шина данных: 10 бит
  • Интерфейс: USB 2.0
  • Триггеры включения/выключения
  • Частота кадров: до 1000 к/с
  • Время запуска: < 10 сек
  • Доступные объективы: f = 24 мм, F # 1.2, FoV 10.2º x 10.2º или f = 48 мм, F # 1.6, FoV 5.1º x 5.1º
  • Размеры (без объектива): 98 x 49.5 x 61 мм
  • Механический затвор для коррекции смещения 
  • ПО в комплекте: NIT SOFTWARE SUITE 
Online Заявка
Последние статьи
Объемные брэгговские решетки в лазерных резонаторах

В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле. 

Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2