Главная / Производители / APE / Детекторы добротности импульса

Детекторы добротности импульса

APE

peakDetect-Pulse-Quality-Monitoring-OEM-PNG-269x300 Основные характеристики импульсного источника содержатся в его технологической документации. Однако если предстоит работа с ультракороткими длительностями импульсов (пико- или фемтосекундные лазеры), необходимо будет учитывать нелинейные искажающие эффекты, которым особенно подвержены волоконные лазеры и лазеры с перестраиваемой длительностью импульса. Также за уровнем стабилизации источника необходимо следить в неустойчивых внешних условиях. Все это становится доступным благодаря многофункциональному детектору импульсов peakDetect. Он является инновационным инструментом для регистрации характеристик последовательностей импульсных сигналов. По характеристикам сигнала можно сделать вывод об уровне стабилизации источника и достоверности измерений. peakDetect позволяет отслеживать частоту, среднюю мощность и влияние нелинейных эффектов. Эти данные позволят рассчитать относительную пиковую мощность и добротность импульса. Благодаря компактному и жесткому корпусу, peakDetect легко встраивается как в большие лазерные системы, так и в малые производственные линии. peakDetect в сочетании с компрессором импульсов позволяет достигать еще более  высокую эффективность. Частота отслеживается и отображается на графиках в реальном времени, в случае неудовлетворительных результатов прибор можно мгновенно отрегулировать до желаемых параметров. Это значительно ускорит ход исследований.

Основные преимущества:

• Мониторинг характеристик импульса в реальном времени
• Запись данных для обработки и анализа
• Подсчет параметров импульса для фемто- и пикосекундных источников
• Компактный дизайн, оптимизированный для встраивания в системы

 

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции APE на территории РФ

 

Online - заявка
Ваше имя или название организации*
Ваш E-mail или телефон*
Текст*

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции APE на территории РФ

Последние статьи
Объемные брэгговские решетки в лазерных резонаторах

В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле. 

Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2