Главная / Thorlabs в наличии / Измерители мощности в наличии

Измерители мощности в наличии

Thorlabs PM100D Компактная консоль для измерения мощности
PM100D
Измерение мощности от 100 пВт до 200 Вт
Измерение энергии от 3 мкДж до 15 Дж
Дисплей 320 х 240 пикселей

Консоль для измерения мощности и энергии лазерного излучения предназначена для использования с различными датчиками. Датчики подключаются через коннектор DB9F. Устройство также может осуществлять автоматическую запись таких данных,  как текущая мощность или энергия, минимум, максимум, стандартное отклонение и другие важные статистические параметры. 


Thorlabs S120C Фотодиодный датчик мощности, Si, 400 - 1100 нм, 50 мВт
S120C
Рабочий диапазон 400 - 1100 нм
Активная область Ø9.5 мм
Диапазон измерямой мощности 50 нВт - 50 мВт
Разрешение 1 нВт

Датчики предназначены для измерения мощности низкоинтенсивного лазерного излучения видимого и ближнего ИК диапазона спектра. Датчики устанавливаются на оптический стол с применением оптических стержней и могут использоваться как для детектирования свободно распространяющих пучков, так и излучения, проходящего по волокну.


Thorlabs S122C Фотодиодный датчик мощности, Ge, 700 - 1800 нм, 40 мВт
S122C
Рабочий диапазон 700 - 1800 нм
Активная область Ø9.5 мм
Диапазон измеряемой мощности 50 нВт - 40 мВт
Разрешение 2 нВт

Датчики предназначены для измерения мощности низкоинтенсивного лазерного излучения ИК диапазона спектра. Датчики устанавливаются на оптический стол с применением оптических стержней и могут использоваться как для детектирования свободно распространяющих пучков, так и излучения, проходящего по волокну.


Thorlabs S425C Термический датчик мощности, 0.19 - 20 мкм, 10 Вт
S425C
Рабочий диапазон 0.19 - 20 мкм
Входная апертура Ø25.4 мм
Максимальная плотность мощности 1.5 кВт/см2
Разрешение 100 мкВт

Датчики тепловой мощности предназначены для общих широкополосных измерений мощности источников света малой и средней мощности. Их характерная особенность заключается в том, что они не насыщаются, что делает их подходящими для измерения импульсного излучения с высокой пиковой мощностью или длительными импульсами. Такие датчики обладают низкой зависимостью от угла и положения падающего светового пучка.


Thorlabs PM16-120 Фотодиодный USB датчик мощности , Si, 400 - 1100 нм, 50 мВт
PM16-120
Рабочий диапазон 400 - 1100 нм
Активная область Ø9.5 мм
Диапазон измеряемой мощности 50 нВт - 50 мВт
Разрешение < 1 нВт

Датчики предназначены для измерения мощности низкоинтенсивного лазерного излучения видимого и ближнего ИК диапазона спектра. Датчики устанавливаются на оптический стол с применением оптических стержней и могут использоваться как для детектирования свободно распространяющих пучков, так и излучения, проходящего по волокну. Интерфейс подключения к ПК USB 2.0.


Thorlabs PM16-122 Фотодиодный USB датчик мощности, Ge, 700 - 1800 нм, 40 мВт
PM16-122
Рабочий диапазон 700 - 1800 нм
Активная область Ø9.5 мм
Диапазон измерямой мощности 50 нВт - 40 мВт
Разрешение < 2 нВт

Датчики предназначены для измерения мощности низкоинтенсивного лазерного излучения ИК диапазона спектра. Датчики устанавливаются на оптический стол с применением оптических стержней и могут использоваться как для детектирования свободно распространяющих пучков, так и излучения, проходящего по волокну. Интерфейс подключения к ПК USB 2.0.


Чтобы получить подробную информацию о наличии оборудования, свяжитесь со специалистами  INSCIENCE 

Последние статьи
Объемные брэгговские решетки в лазерных резонаторах

В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле. 

Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2