scanDelay - оптическая линия задержки, позволяющая ввести определенную задержку в оптическую траекторию пучка. Задержка контролируется шейкером с быстрым сканером (частота сканирования до 20 Гц). Основной элемент серии оптических линий задержки от APE – элемент-транслятор с соответствующей электроникой для управления. Линейный привод был разработан специально для оптических применений. Он сочетает в себе малую массу, компактность, благодаря чему достигается высокая скорость, а также высокая точность и разрешение. Привод движется без трения, имеет большой и точный диапазон перемещения. Допустимы лишь очень малые смещения без каких-либо эффектов проскальзывания. Таким образом, scanDelay способен обеспечивать быстрое сканирование широкой области с минимальной задержкой без проскальзывания. Фактическое положение измеряется в режиме реального времени аналоговой фотоэлектрической системой с высоким разрешением и широким динамическим диапазоном. Линейный привод обеспечивает суперточное движение сканера и превосходную воспроизводимость от сканирования к сканированию.
Основные преимущества:
• Фиксированная величина задержки и высокая скорость сканирования
• Оптимально для исследований по накачке лазеров
• Рабочий диапазон от фемто- до пикосекунд
• Интуитивное управление
• Управляющие ПО, совместимое с LabView
Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции APE на территории РФ
В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле.
Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.
Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.
Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм. Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.
Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.
Изучение явления поверхностного плазменного резонанса (ППР) стало ключом к созданию множества сенсорных систем для исследования образования и диссоциации как низкомолекулярных соединений, так и макромолекул.
г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2