Sino-Galvo

Гальванометрические сканаторы
Новейшая разработка, незаменимая во множестве областей, от эстетической косметологии до промышленного приборостроения...
Системы контроля
Платы управления различными фракционными лазерными системами...
Сканирующие компоненты
F-theta объективы и модули накачки...
О компании Sino-Galvo

jd2204-galvo-scanner-for-laser-marking-machine-2219018

Sino-Galvo - это высокотехнологичное предприятие, расположенное в Чжэньцзяне. Компания специализируется на разработках гальванометрических сканирующих систем, ведет разработки в научно-исследовательской и опытно-конструкторской деятельности. Помимо стандартного списка продукции, компания Sino-Galvo также может производить сканирующие  системы по персональному пожеланию заказчика. Площадь производственной базы  занимает 10000 квадратных метров, персонал предприятия составляет около двухсот человек. Продукция Sino-Galvo широко применяется в лазерной маркировке, медицине, науке, 3D-печати, лазерной очистке, сварке, прецизионной резке, в военных и многих других областях. 

Научно-исследовательский центр Sino-Galvo расположен на высокотехнологической промышленной базе Джонгуанкуна в Пекине. С 2001 года в компании работают ведущие специалисты в области электроники, оптики, точной механики и программного обеспечения. Благодаря методическим рекомендациям, разработанным национальными научно-исследовательскими институтами (например, министерство авиации Китая) компания Sino-Galvo представила и запатентовала собственную серию гальванометрических сканеров и систем управления программным обеспечением. 

Продукты компании уже получили сертификаты CE, RoHS, FCC и REACH, также был произведен контроль качества в соответствии со стандартом ISO900. Предприятие имеет 18 патентов на изобретения, а также многочисленные права на интеллектуальную собственность. Sino-Galvo экспортирует свою продукцию во многие страны и регионы, включая США, Германию, Россию, Италию, Турцию, Польшу, Бразилию, Южную Корею, Индию, Тайвань. 

Гальванометрические сканаторы
Инновационные гальванометрические сканирующие системы.
Системы контроля
Прецизионные системы контроля для систем лазерной маркировки и фракционных лазеров.
Сканирующие компоненты
F-Theta объективы и модули накачки твердотельных лазеров.

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции Sino-Galvo на территории РФ

Последние статьи
Объемные брэгговские решетки в лазерных резонаторах

В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле. 

Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2