Мини-спектрометр BLUE-Wave обладает следующими технические характеристиками:
Спектрометр с вогнутой дифракционной решеткой BLACK-Comet:
Спектрометр широкого диапазона с вогнутой дифракционной решеткой BLACK-Comet-SR:
Спектрометр высокого разрешения с вогнутой дифракционной решеткой BLACK-Comet-HR:
Спектрометр широкого диапазона SILVER-Nova с термоэлектрическим охладителем:
DWARF-Star – миниатюрный спектрометр для исследований в ближнем ИК диапазоне:
RED-Wave-NIR – портативный спектрометр (матрица InGaAs) со следующими техническими характеристиками:
RED-Wave-NIRX-SR - портативный спектрометр (матрица InGaAs) со следующими техническими характеристиками:
RED-Wave-Micro – миниатюрный спектрометр ближнего ИК диапазона на базе микроэлектромеханической системы (МЭМС):
GREEN-Wave – бюджетный инструмент для спектрометрического анализа, обладающий следующими характеристиками:
Рамановкие спектрометры, обладающие следующими техническими характеристиками:
Двухдетекторный спектрометр широкого диапазона Dual DSR:
Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции StellarNet на территории РФ
В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле.
Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.
Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.
Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм. Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.
Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.
Изучение явления поверхностного плазменного резонанса (ППР) стало ключом к созданию множества сенсорных систем для исследования образования и диссоциации как низкомолекулярных соединений, так и макромолекул.
г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2