Корпорация StellarNet производит высокоточные оптоволоконные спектрометры для решений производственных задач разного уровня сложности. Благодаря успеху, достигнутому в разработке аналитических приборов электрооптики, в проектировании программного обеспечения корпорация занимает лидирующие позиции на мировом рынке приборов на протяжении многих лет.
В 1993 году инженеры компании StellarNet разработали миниатюрный оптоволоконный спектрометр, который соединялся с компьютером через параллельный интерфейс - это стало по истине революционным техническим достижением в области высокоскоростной связи. Приборы компании полностью отвечают требованиям к портативности. Высокая износоустойчивость каждого элемента гарантирует долговременную работу устройств даже в самых сложных условиях, а благодаря интерфейсу USB максимальная возможность одновременно подключаемых к спектрометру каналов достигла 8.
Исследовательский центр StellarNet является месторождением многофункциональных инженерных, производственных и системных интеграционных объектов. Именно здесь проектируют, собирают и испытывают спектрометры и компьютерные системы.
Спектрометры компании StellarNet - это компактные оптоволоконные инструменты, необходимые для анализа в ультрафиолетовой и видимой части спектра, а также в области ближнего ИК диапазона. Примечательно, что конструкция приборов не имеет движущихся частей. Другие отличительные особенности продукции StellarNet - автономное питание от батареи, алюминиевый корпус и встроенный аналогово-цифровой преобразователь. Ассортимент спектрометров достаточно широк, разработчики компании готовы предложить оптику стандартного или высокого разрешения для работы в нужных спектральных диапазонах.
Портативные источники света StellarNet облегчают измерения в ультрафиолетовой и видимой части спектра, в ближнем ИК диапазоне. Они подходят для исследований, решения различных задач, использующих устройства со стандартным оптическим разъемом SMA-905. Бюджетные модульные компоненты являются необходимым помощником и подойдут для использования как в лабораториях, так и промышленных условиях.
Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции StellarNet на территории РФ
В статье приводится обзор последних достижений в разработке дифракционных оптических элементов - решеток Брэгга, записанных на фототерморефрактивных (ФТР) стеклах. Группа из колледжа оптики и фотоники при Университете центральной Флориды представила экспериментальные результаты, отражающие изменения параметров выходного лазерного излучения при использовании брэгговских решеток, записанных на ФТР стекле.
Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.
Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.
Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм. Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.
Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.
Изучение явления поверхностного плазменного резонанса (ППР) стало ключом к созданию множества сенсорных систем для исследования образования и диссоциации как низкомолекулярных соединений, так и макромолекул.
г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2