Главная / Производители / ARCoptix / VIS-NIR спектрометр

VIS-NIR спектрометр

супершир

VIS-NIR спектрометры от ARCoptix представляют собой сверхширокополосные спектрометры, разработанные для использования с оптоволоконными зондами в спектральном диапазоне 350 – 2600 нм или 200 – 2600 нм. Система включает в себя один сканирующий спектрометр с Фурье-преобразованием FT-NIR для диапазона 900 – 2600 нм и один многоканальный решеточный спектрометр для диапазона 350 – 1000 нм. Оба прибора встроены в один переносной корпус, который имеет два отдельных входа SMA для указанных спектральных диапазонов, соответствующих диапазонам пропускания волокна с высоким ОН и волокна с низким ОН. Программное обеспечение, поставляемое со спектрометром, автоматически объединяет спектры, полученные двумя спектрометрами.

В отличие от большинства сканирующих спектрометров, время сканирования которых занимает несколько минут, VIS-NIR выдает результат в течение двух секунд! При необходимости программное обеспечение может быть настроено для любых конкретных измерений.

Модель VIS-NIR UV-VIS-NIR
Спектральный диапазон, нм 350 - 2600 200 - 2600
Волоконная муфта SMA905 (1 для UV-VIS, 1 - NIR)
Минимальное время измерения, с
Разрешение, нм 5
Соотношение сигнал:шум 1000:1 (UV-VIS), 10000:1 (NIR)
Интерфейс USB 2.0
Размеры 220 х 180 х 80 мм
Вес 2.5 кг

Преимущества:

  • Широкий спектральный диапазон 350 – 2600 нм
  • Высокое разрешение < 5 нм
  • Возможность работы с оптоволокнами
  • Длительность измерения до 2 с
  • Отсутствие шума
  • Простота использования
Online - заявка
Ваше имя или название организации*
Ваш E-mail или телефон*
Текст*
Последние статьи
Применение квантово-каскадных лазеров в абсорбционной спектроскопии

Спектроскопические методы, основанные на использовании лазерных источников, имеют большой потенциал для выявления и мониторинга компонентов в газовой фазе. Высокая чувствительность и селективность лазера позволяет использовать их для количественной оценки атомов и молекул в образце. Квантово-каскадные лазеры, излучающие в области среднего ИК диапазона, обеспечивают высокое разрешение и позволяют идентифицировать спектр молекул в газовых образцах и в парах воды.

Спектроскопия тонкопленочных покрытий

Тонкие пленки используются в современных высокотехнологичных полупроводниковых структурах, микроэлектронике, матричных приемниках и, конечно, в оптике. Развитие знаний о свойствах материалов позволило науке совершить настоящий прорыв. Конечное применение тонкопленочных структур может быть разнообразным, но постоянной остается необходимость точного контроля толщины каждого слоя в процессе эпитаксиального роста. Толщина пленки обычно находится в диапазоне от 1 нм до 100 мкм.

Компенсация дисперсии в микроскопии трехфотонного возбуждения

Трехфотонная микроскопия – усовершенствованный метод двухфотонной микроскопии, в котором используется не двух-, а трехфотонное возбуждение в диапазоне 1300 – 1700 нм.  Увеличение длины волны возбуждающего лазерного излучения до 1700 нм позволяет сократить рассеяние и поглощение в тканях, ограничивающих глубину поля зрения, однако методы компенсации дисперсии в многофотонной микроскопии по-прежнему остаются актуальной темой исследований в современной фотонике.

Спектрометры Avantes для лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия (ЛИЭС) – один из типов атомно-эмиссионного спектрального анализа. Методом ЛИЭС изучаются спектры плазмы лазерного пробоя (лазерной искры) в анализе твердотельных образцов, жидкостей, газовых сред, взвешенной пыли и аэрозолей.

Применение CO2 лазеров с высокочастотной накачкой для обработки материалов

В последнее время во многих применения все чаще используют CO2 лазеры с высокочастотной накачкой. Данный факт обусловлен высокой производительностью, долговечностью и безопасностью таких лазеров...

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б, офис 502

г. Санкт-Петербург, Коломяжский проспект, 33 корпус 2