Спектрометры APE

Мониторинг характеристик импульса в реальном времени

Запись данных для обработки и анализа

Высокая скорость сканирования

Спектрометр waveScan от компании АРЕ - компактный и надежный прибор по оптимальной стоимости. Он применяется для спецификации различных источников излучения, в том числе с ультракороткой длительностью импульсов и непрерывных. Высокое разрешение при измерениях сохраняется благодаря вращающейся дифракционной решетке. Доступны различные конфигурации спектрометров для измерений в УФ области (200 нм) до средней ИК области (6.3 мкм). waveScan - лучший выбор для анализа спектрального состава лазерных источников различных типов. Устройство работает по принципу Plug’n’play, подключение к ПК происходит через USB порт. Спектрометр waveScan не требует предварительной настройки.

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции APE на территории РФ

Новые статьи

Применение модифицированных лазерных пучков в научных исследованиях

Дифракционные оптические элементы (ДОЭ) Holo/Or применяются в научных и промышленных целях. В статье приводится обзор основных приложений.

Измерение спектров флуоресценции Avantes

Флуоресцентная спектроскопия (т.н. флуорометрия или спектрофлуориметрия), представляет собой тип электромагнитной спектроскопии, при которой анализируется флуоресценция образца.

Спиральные фазовые пластины в сингулярной оптике

Остановимся подробнее на свойствах и принципе работы спиральных пластин. В качестве примера рассмотрим спиральную фазовую пластину Optical Vortex производства компании Holo/Or.

Применение дифракционных оптических элементов в преобразовании распределения интенсивности лазерного пучка

В статье изложены принципы работы и примеры использования современной дифракционной оптики: гомогенизаторов, светоделителей, формирователей профиля интенсивности.

Бриллюэновская спектроскопия

Высокая контрастность и подавление волн накачки в спектрометре LightMachinery HF-8999-532 позволили наблюдать отчетливый спектр Бриллюэна.

Спектроскопия тонких пленок пентаоксида ниобия

В эксперименте измерялась частота Бриллюэновского сдвига в тонкой пленке пентаоксида ниобия, нанесенной на подложки из стекла и германия.